電子元器件壽命試驗簡介
壽命試驗是評價、分析產(chǎn)品壽命特征的試驗，它是在實驗室條件下，摸擬實際工作狀 態(tài)或儲存狀態(tài)，投人一定樣品進(jìn)行試驗，試驗中記錄樣品失效的時間，并對這些失效時間 進(jìn)行統(tǒng)計、分析，以評估產(chǎn)品的可靠性數(shù)量特征(如可靠度、失效串、平均壽命等），作為可 靠性預(yù)測、可靠性設(shè)計、制定篩選條件、制定例行試驗的規(guī)范和改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量的依據(jù)。
因為壽命試驗的目的是考核產(chǎn)品在規(guī)定的條件下，在全過程工作時間內(nèi)的質(zhì)量和可 靠性，所以，為了使試驗結(jié)果有較好的代表性，參試的樣品要有足夠的數(shù)量。如按 GJB548《微電子器件試驗方法和程序》的《鑒定和質(zhì)量一致性檢驗程序》，采用批容許不合 格百分率(LTPD，Lot Tolerance Percent Defective)等于 5 的抽樣方案。
壽命試驗可根據(jù)不同的分類方法進(jìn)行不同的分類:如以施加應(yīng)力大小區(qū)分,可分為長 期壽命試驗和加速壽命試驗;如以受試樣品所處狀態(tài)區(qū)分,又可分為儲存壽命試驗和工作 壽命試驗兩大類;如從數(shù)據(jù)處理角度出發(fā)，又可劃分為定時截尾試驗、定數(shù)截尾試驗、有替 換試驗、無替換試驗等類型。
不同電子元器件可有不同的壽命試驗。如微電路的壽命試驗分穩(wěn)態(tài)壽命試驗、間歇 壽命試驗和模擬壽命試驗。穩(wěn)態(tài)壽命試驗是微電路必須進(jìn)行的試驗，試驗時要求被試樣 品要施加適當(dāng)?shù)碾娫?使其處于正常的工作狀態(tài)。國家標(biāo)準(zhǔn)的穩(wěn)態(tài)壽命試驗環(huán)境溫 度為125X：，時間為1000小時。加速試驗可以提髙溫度，縮短時間。功率型微電路管殼的 溫度一般大于環(huán)境溫度，試驗時保持環(huán)境溫度可以低于125T：。微電路穩(wěn)態(tài)壽命試驗環(huán)境 溫度或管殼的溫度要以微電路結(jié)溫等于額定結(jié)溫為基點(diǎn)(一般在175X：?200X：之間）進(jìn) 行調(diào)整。間歇壽命試驗要求以一定的頻率對被試微電路切斷或突然施加偏壓和信號，其 他試驗條件與穩(wěn)態(tài)壽命試驗相同。模擬壽命試驗是一種模擬微電路應(yīng)用環(huán)境的組合試 驗。它的組合應(yīng)力有機(jī)械、溫度、濕度和低氣壓四應(yīng)力試驗及機(jī)械、溫度、濕度和電四應(yīng)力 試驗等。